Доброго времени суток! Возникло пара вопросов, по измерению тангенса угла диэлектрических потерь при помощи универсальной системы измерения электрического тока MI 600.
http://www.omicron.at/ru/products/pr...gnosis/mi-600/
1)Кто может объяснить, что творится с диэлектриком на молекулярном уровне, почему тангенс угла диэлектрических потерь прямолинейно (грубо говоря) зависит от напряжения, наложенного на испытуемый объект.
2)Для опытов, которые я хочу проводить, используются 2 стальные платы (электроды) круглой формы, между которыми будут помещаться различные диэлектрики. После чего с помощью системы mi600 будут измеряться емкость получившегося конденсатора и его тангенс угла диэлектрических потерь. Теперь вопрос, пролистав все нормы и.т. д и. т. п, я не смог найти как рассчитать необходимое напряжение которое накладывается на испытуемый объект, пришлось примерно брать напряжение при котором пробивается диэлектрик и исходя их этого примерно брать интервал напряжения для испытаний.
Если кто работал с этой системой подскажите плиииз!
Заранее спасибо!!!
Измерение тангенса угла диэлектрических потерь
